Приборы для определения толщины гальванических покрытий
Вопрос.
Добрый вечер!
Какие существуют хорошие приборы в настоящее время для определения толщины гальванических покрытий, кроме МТЦ-3, но которые также могут определять толщину на плоских, выпуклых и вогнутых поверхностях изделий.
С уважением,
Ботин Александр, инженер-технолог
Ответ.
Доброго Вам времени суток,
Существуют разрушающие и неразрушающие методы определения толщины покрытия. Практически все методы представлены в ГОСТ 9.302-88 и ISO 3882.
Наиболее точным из разрушающих методов являются кулонометрический и микроскопический.
Кулонометрический толщиномер предназначен для измерения толщины медных, никелевых и хромовых одно- и многослойных покрытий, нанесённых электролитическим и химическим способами на основание из металла или пластмассы. Прибор обеспечивает контроль толщины покрытий 3–70 мкм со скоростью анодного растворения 0,01–0,5 мкм/с. Пример прибора: настольный толщиномер покрытий Fischer серии COULOSCOPE CMS2.
Микроскопический метод основан на определении толщины покрытия на поперечном шлифе при увеличении и применим для определения местной толщины однослойных и многослойных электролитических покрытий главным образом как арбитражный. Этот метод заключается в измерении с помощью микроскопа толщины покрытия на поперечном срезе детали. Допускается применение металлографических микроскопов всех типов. Рекомендуемые увеличения: (500–1000)-кратное для покрытий толщиной до 20 мкм, 100–200-кратное для измерения толщины покрытия изготовляют микрошлиф с поперечным разрезом покрытия (поперечный микрошлиф). Последующие операции для получения микрошлифа включают шлифование, полирование и травление. Толщина покрытия может быть определена с точностью до 1 мкм для покрытий толщиной от 2 мкм до 25 мкм.
Наиболее точным из неразрушающих методов является рентгенофлуоресцентный.
Рентгенофлуоресцентный метод контроля толщины покрытия основан на изменении интенсивности возбуждённого с помощью изотопного источника рентгеновского излучения. При облучении образца мощным потоком рентгеновского излучения возникает характеристическое флуоресцентное излучение атомов, интенсивность которого пропорциональна их концентрации в образце. Излучение разлагается в спектр при помощи кристаллов-анализаторов, далее с помощью детекторов и счётной электроники измеряется его интенсивность.
Для определения толщины этим способом необходимо знать плотность слоя, а также элементный состав слоя должен отличаться от состава основы. Например, нельзя определить толщины медного или бронзового покрытия на медной основе.
Толщиномер гальванических покрытий МТЦ-3 тоже неплохой, есть также аналог Константа К5 или К6.
С уважением,
Абрашов Алексей Александрович,
к.т.н., доцент кафедры Инновационных материалов и защиты от коррозии РХТУ им Д.И. Менделеева
31.10.2023
